26–27 февраля 2026 года сотрудники Инженерно-метрологического центра «Микро» приняли участие в I Международном симпозиуме «Актуальные вопросы в области измерений геометрических величин», который прошёл в Санкт-Петербурге.
Мероприятие объединило представителей ведущих метрологических институтов, научных организаций и предприятий, работающих в сфере разработки и применения средств измерений. В ходе симпозиума обсуждались ключевые направления развития метрологического обеспечения геометрических измерений, вопросы совершенствования эталонной базы, новые методы высокоточных измерений, а также автоматизация процессов контроля геометрических параметров деталей.
В программе были представлены доклады специалистов государственных метрологических центров, научных институтов и профильных предприятий. Особое внимание было уделено развитию государственных эталонов единицы длины, современным оптическим и интерферометрическим методам измерений, а также вопросам метрологической прослеживаемости и внедрения автоматизированных систем контроля.
Участие в симпозиуме позволило специалистам ИМЦ «Микро» ознакомиться с последними тенденциями в области измерений геометрических величин, обсудить практические вопросы применения новых технологий и обменяться опытом с коллегами из профессионального сообщества.
Направления которые обсуждались напрямую связаны с деятельностью нашей компании. Развитие эталонной базы, повышение точности измерений и цифровизация контроля геометрических параметров являются ключевыми задачами при создании современных средств линейно-угловых измерений.
Полученные знания и практические рекомендации будут использованы в дальнейшей работе компании — при совершенствовании существующих приборов и разработке новых решений.
Мероприятие объединило представителей ведущих метрологических институтов, научных организаций и предприятий, работающих в сфере разработки и применения средств измерений. В ходе симпозиума обсуждались ключевые направления развития метрологического обеспечения геометрических измерений, вопросы совершенствования эталонной базы, новые методы высокоточных измерений, а также автоматизация процессов контроля геометрических параметров деталей.
В программе были представлены доклады специалистов государственных метрологических центров, научных институтов и профильных предприятий. Особое внимание было уделено развитию государственных эталонов единицы длины, современным оптическим и интерферометрическим методам измерений, а также вопросам метрологической прослеживаемости и внедрения автоматизированных систем контроля.
Участие в симпозиуме позволило специалистам ИМЦ «Микро» ознакомиться с последними тенденциями в области измерений геометрических величин, обсудить практические вопросы применения новых технологий и обменяться опытом с коллегами из профессионального сообщества.
Направления которые обсуждались напрямую связаны с деятельностью нашей компании. Развитие эталонной базы, повышение точности измерений и цифровизация контроля геометрических параметров являются ключевыми задачами при создании современных средств линейно-угловых измерений.
Полученные знания и практические рекомендации будут использованы в дальнейшей работе компании — при совершенствовании существующих приборов и разработке новых решений.
