Новости

Книга «Текстура поверхности и ее измерение»

ООО ИМЦ "Микро" выпустили монографию «Текстура поверхности и ее измерение» Шероховатость, волнистость, профиль, топография. Монография содержит сведения по современному пониманию текстуры поверхности деталей, способам измерения и современным приборам для измерения текстуры поверхности. Приведены рисунки и схемы, поясняющие параметры шероховатости, волнистости и профиля поверхности и их обозначение на чертежах. Дано понятие изъянов поверхности и их параметры. Проведен анализ и даны рекомендации к применению параметров шероховатости, волнистости и профиля на основе международного опыта. Даны разъяснения к применению новых стандартов, введенных в действие в Российской Федерации.

Предназначена для конструкторов, технологов, метрологов, работников ОТК машиностроительных предприятий и сотрудников центров метрологии стандартизации и сертификации, а также студентов высших технических учебных заведений.

По вопросам приобретения книги на юр. лицо обращаться по нашим контактам:
(812) 534-68-82, (812) 981-49-65, imcmikro@mail.ru
или можете оставить заявку на книгу нажав кнопку
"Консультация" на главной странице сайта.


Разделы книги:

– Текстура поверхности
– Стандартизация текстуры поверхности в России
– Стандартизация текстуры поверхности в ISO
– Параметры, стандартизованные ASME B 46.1-2009 и не включенные в ISO 4287-1997
– Специальные параметры
– Волнистость
– Фильтры, используемые при измерении текстуры поверхности
– Изъяны поверхности 
– Выбор и назначение параметров шероховатости поверхности
– Измерение шероховатости поверхности и факторы, влияющие на результаты измерений
– Часто встречающиеся ошибки при измерении шероховатости поверхности
– Обозначение требований шероховатости на чертежах
– Арбитражные измерения и приемка продукции
– Сопоставление профильных и трехмерных измерений текстуры поверхности
– Приборы для измерений текстуры поверхности
– Поверка и калибровка приборов
– Образцы шероховатости поверхности (сравнения) ГОСТ 9878-93
– Слепочные массы для получения оттисков поверхностей
Все новости